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致茂Chroma HDAVO 高性能混和訊號(hào)解決方案 8路任意波形發(fā)生器（AWG）和8路數(shù)字化器（DGT） 為AWG和DGT提供高頻模式和高分辨率模式 AWG -16位高頻DAC，400 Msps -具有2Msps的24位高分辨率DAC DGT -16位高頻DAC，250 Msps -24位高分辨率DAC，1.5Msps

致茂Chroma 36020 直流電源供應(yīng)模塊 相容于PXI 3U/混合式PXI匯流排,4通道 +5V/-2V 及 +10V/-2V 兩種 force ranges 電壓供給的分辨率為16-bit 電流量測的分辨率為18-bit 5uA ~ 250mA 共6組可選擇的電流量測范圍 可編輯電流 clamp 功能 可使用Ganged 功能提供更大電流 獨(dú)立式PXI卡片

致茂Chroma 36010 可程控邏輯腳位模塊 相容于PXI 3U/混合式PXI匯流排 Date rate蕞高為100MHz 8個(gè)per-pin, per-cycle的 I/O雙向控制通道 可擴(kuò)充至64 pin 32M sequence command 內(nèi)存 17種以上的pattern sequence 指令 Per-pin 控制架構(gòu)

致茂Chroma 3650-CX SoC 測試系統(tǒng) 50/100MHz測試工作頻率 256個(gè) I/O 通道（I/O Channel） 16/32 MW vector 記憶體 16/32 MW pattern instruction 記憶體 Multi-site 測試可達(dá) 32 sites 16個(gè) DPS 通道 8個(gè) PMU 通道

致茂Chroma 3650 SoC 測試系統(tǒng) 50/100MHz測試工作頻率 512個(gè) I/O 通道（I/O Channel） 16M （32M Max.） Pattern 記憶體（Pattern Memory） Per-Pin 彈性資源架構(gòu) 32 DUTS 平行測試功能 ADC/DAC 測試功能