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致茂Chroma 7940 晶圓檢測系統(tǒng) 可同時檢測正反兩面晶圓 大可檢測6吋擴膜晶圓（檢測區(qū)域達(dá)8吋范圍 ） 可因應(yīng)不同產(chǎn)業(yè)的晶粒更換或新增檢測項目 上片后晶圓自動對位機制

Chroma 58635-L/N/F光電組件晶圓點測系統(tǒng) 58635-L光電組件晶圓LIV點測系統(tǒng) 58635-N光電組件近場量測點測系統(tǒng) 58635-F光電組件遠(yuǎn)場量測點測系統(tǒng)

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